Обладнання лабораторії електронно-мікроскопічних досліджень структури опромінених матеріалів

ІФТТМТ
Інститут фізики твердого тіла, матеріалознавства та технологій
НАН України

Обладнання лабораторії електронно-мікроскопічних досліджень структури опромінених матеріалів

Електростатичний прискорювач із зовнішнім інжектором (ЕСУВІ)

Параметри опромінення:
Т_опр= 60 – 800^°С
D = 0 - 250 сна
k=7·10^-5-7·10^-3 зна/с
0.13 – 1.3 appmHe/с
0.1 – 1 appmH/с

Сорт іонів	параметри
Cr	ЕCr= 0.3 - 3 МэВ jCr =1 - 45 мкА/см²
Cr+He	D = 0 - 250 сна
Cr+H	k=7·10^-5-7·10-3сна/с
Cr+He+H	-

Електронні мікроскопи

JEM-100 CX
Трансмісійний електронний мікроскоп з системою енергодисперсійного мікроаналізу

JEM-2100
Трансмісійний електронний мікроскоп зі скануючої приставкою і з системою енергодисперсійного мікроаналізу

JSM-7100F
Автоемісійний скануючий електронний мікроскоп з системою енергодисперсійного мікроаналізу, зі спектрометром з хвильової дисперсією і детектором назад розсіяних електронів