Применение полупроводниковых детекторов ионизирующих излучений в ННЦ ХФТИ

Имитационные исследования защитных свойств материалов на ускорителе электронов

Исследованы свойства различных материалов предназначенных для использования в качестве защиты аппаратуры космических аппаратов от ионизирующих излучений.

Имитационные исследования защитных свойств материалов при взаимодействии с протонами

Исследование поглощающей способности материалов по ослаблению потока γ-излучения от источников ОСГИ

Разработано устройство, главной особенностью которого является соблюдение однозначного геометрического взаимного расположения элементов устройства: источника излучения, образца и детектора гамма-излучения. Устройство позволяет получить воспроизводимые результаты при определении поглощающей способности образцов различной толщины при облучении стандартными источниками γ-излучения 241Am, 137Cs, 60Co, 133Ba, 152Eu.

Исследование защитных характеристик различных композитов под действием электронов

Разработана методика проведения имитационных испытаний металлических и композиционных материалов для определения их защитных свойств под воздействием β-излучения 90Sr+90Y источника.

Такой подход, кроме выигрыша во времени, дает значительный экономический эффект не только по отношению к испытаниям материалов и элементов аппаратуры в космосе на борту космического аппарата, но и по сравнению с испытаниями, проводимыми на ускорителях.

CdZnTe детекторы для исследования пространственно-энергетической структуры высокоэнергетичного тормозного излучения ускорителей

Регистрация интенсивного электронного и гамма-излучения CVD-алмазными детекторами на ускорителе ЛУ-10

Координатно-чувствительный алмазный детектор

Для прецизионного измерения профиля пучка электронов на выходе ускорителей разработан и изготовлен многоканальный детектор электронов и гамма-излучения. Проведены исследования межстрипового сопротивления и равномерности электрофизических и радиационных характеристик детектора.

Исследованы объемные и поверхностные токи утечки, амплитудные распределения сигнала при различных вариантах подключения к регистрирующей аппаратуре (одиночный стрип, группа стрипов). [И.Н. Шляхов и др.]